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温度冲击试验

用途:冷热冲击试验用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度,适用电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性。在研制阶段可用于发现产品设计和工艺缺陷,在有些情况下也可用于环境应力筛选,剔除产品的早期故障。试验的严苛程度取决于高低温范围,驻留时间,温度转换时间,循环数。

特点:各类规格冷热冲击设备共计15台;全部为原装进口设备,控制精良;对应各种两箱及三箱法试验,满足各种国际和企业标准试验;介质对应气体或液体。

认证标准:满足GB/T2423.22(IEC60068-2-14);ISO16750;IPC-TM-650;JESD22等
系列标准中的温度冲击试验。

相关试验

液槽式温度冲击箱

  • 设备型号:TSB-51
  • 内部尺寸:150×150×200
  • 设备能力:+60℃~+200℃ -65℃~+0℃

三箱式温度冲击箱

  • 设备型号:TSA-101S-W
  • 内部尺寸:650×460×370
  • 设备能力:+60℃~+200℃ -70℃~+0℃

两箱式温度冲击箱

  • 设备型号:TSD-100-W
  • 内部尺寸:710×345×410
  • 设备能力:+60℃~+200℃ -70℃~+0℃

小型两箱式温度冲击箱

  • 设备型号:TSE-11A
  • 内部尺寸:320×148×230
  • 设备能力:+60℃~+200℃ -65℃~+0℃

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