统计分析显示电子元器件失效占电子整机失效的50%,可靠性检测技术仍然面临着许多挑战。
行业 | 检测对象 | 用途 | 工艺 | 解决方案 |
机电 |
医用电子设备 |
评价 | 保存试验 | 高低温(湿度)试验室 |
加速试验 | ||||
系统部件 |
评价 | 热循环试验 | 高低温(湿热)试验箱(J系列) | |
热冲击试验 | 冷热冲击试验箱 | |||
加速试验 | 高压加速老化试验箱 | |||
电力燃气 |
评价 | 冷热冲击试验 | 冷热冲击试验箱 | |
热循环试验 | 高低温(湿热)试验箱(J系列) | |||
高低温(湿度)试验室 | ||||
绝缘试验 | 绝缘电阻劣化评估系统 | |||
铁路交通 |
评价 | 热循环试验 | 高低温(湿热)试验箱(J系列) | |
冷热冲击 | 冷热冲击试验箱 | |||
导通试验 | 导通电阻评估系统 | |||
绝缘试验 | 绝缘电阻劣化评估系统 | |||
低温冻结试验 | 高低温(湿度)试验室 | |||
高低温(湿热)试验箱(J系列) | ||||
小型环境试验箱 | ||||
导通电阻评估系统 |